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5.5 场 效 应 管

 

5.5  

三极管是电流控制的双极型器件,场效应管是一种电压控制的单极型半导体器件,它不但具有一般三极管的特点,如体积小、重量轻、耗电省、寿命长等特点,而且还具有输入阻抗高(可达1091014Ω);噪声低、热稳定性好、抗辐射能力强等特点。因此目前已广泛用于各种电子电路中。

按场效应管结构的不同,可分为结型和绝缘栅型两种。其中,绝缘栅型场效应管在制造工艺方面简单,便于实现集成电路,发展很快,目前已得到广泛应用。

5.5.1  结型场效应管

1.结型场效应管的结构

结型场效应管的结构示意图及符号如图5-28所示,下面以N沟道结型场效应管为例介绍结型场效应管的结构。N沟道结型场效应管是在一块掺杂浓度较低的N型半导体上,制作两个高浓度的P型区(称为P+型区),从而形成两个P+N结。将两个P+型区连接在一起,引出一个电极,称为栅极(用G表示);在N型半导体的两端各引出一个电极,分别称为漏极(用D表示)和源极(用S表示)。两个PN结中间的N型区是漏极和源极之间的电流沟道,称为导电沟道。由于导电沟道是N型区,其多子是自由电子,故称为N沟道结型场效应管;其符号箭头方向是从栅极指向沟道,即从P区指向N区。

如果在一块P型硅片两侧分别制出一个高浓度的N型区,就可制成P沟道结型场效应管,其结构和符号如图5-28b)、(d)所示。

aN型沟道          bP型沟道         cN沟道          dP沟道

5-28  结型场效应管结构及符

2.结型场效应管的工作原理

上述两种结构的结型场效应管工作原理完全相同,下面以N型沟道结型场效应管为例进行分析。

研究场效应管的工作原理,主要是讲输入电压对输出电流的控制作用。在如图5-29所示原理图中,绘出了当漏源电压UDS=0时,栅源电压UGS大小对导电沟道影响的示意图。

1)当UGS=0时,PN结的耗尽层如图5-29a)中阴影部分所示。耗尽层只占N型半导体体积的很小一部分,导电沟道比较宽,沟道电阻较小。

2)当在栅极和源极之间加上一个可变直流负电源UGG时,此时栅源电压UGS为负值,两个PN结都处于反向偏置,耗尽层加宽,导电沟道变窄,沟通电阻加大,如图5-29b)所示。而且栅漏电压UGS愈负,导电沟通愈窄,沟道电阻愈大。

3)当栅源电压UGS负到某一值时,两边的耗尽层近于碰上,仿佛沟道被夹断,沟道电阻趋于无穷大,如图5-29c)所示。此时的栅源电压称为栅源截止电压(或夹断电压),并以队UGS(off),表示。

a                                    b                       c

5-29  N沟道结型场效应管工作原理

由以上的分析可知,改变栅源电压UGS的大小,就能改变导电沟道的宽窄,也就能改变沟道电阻的大小。如果在漏极和源极之间接入一个适当大小的正电源UDD,则N型导电沟道中的多数载流子(电子)便从源极通过导电沟通向漏极作漂移运动,从而形成漏极电流ID。显然,在漏源电压UDS一定时,ID的大小是由导电沟道的宽窄(即电阻的大小)决定的,于是可以得出结论:栅源电压UGS对漏极电流ID有控制作用。这种利用电压所产生的电场控制半导体中电流的效应,称为“场效应”。场效应管因此得名。

此外,栅源电压UGS在负值范围内变化时,PN结始终处于反向偏置,栅极电流基本为零,所以结型场效应管的输入电阻较大,一般可达106109Ω

3.结型场效应管的特性曲线

场效应管的特性曲线最常用的有转移特性曲线和输出特性曲线。它们可用图示仪直接显示出来,也可以通过实验逐点测绘出。

1)转移特性曲线。转移特性曲线是用于描述漏-源电压一定情况下,漏极电流与栅-源电压之间关系的曲线,即

                                         5.5.1

N沟道JFET的转移特性曲线如图5-30所示。

5-30给出了某N沟道结型场效应管的转移特性。从图中可以看出UGSID的控制作用。UGS=0时的ID称为栅源短路时漏极电流,记为IDSS。使ID≈0时的栅源电压就是栅源截止电压UGSoff

从图中还可看出,对应不同的UDS,转移特性不同。但是,当UDS大于一定数值后,不同的UDS,转移特性是很靠近的,这时可以认为转移特性重合为一条曲线,使分析得到简化。

此外,图5-30中的转移特性,可以用一个近似公式来表示

                                      5.5.2

2)输出特性曲线。输出特性曲线(也叫漏极特性)是指在栅源电压UGS一定时,漏极电流ID与漏源电压UDS之间关系。函数表示为

                                        5.5.3

5-31给出了某N沟道结型场效应管的输出特性。从图中可以看出,管子的工作状态可分为可变电阻区、恒流区和击穿区这3个区域。

1)可变电阻区:特性曲线上升的部分称为可变电阻区。在此区内,UDS较小。IDUDS的增加而近于直线上升,管子的工作状态相当于一个电阻,而且这个电阻的大小又随栅源电压UGS的变化而变化(不同UGS的输出特性的切线斜率不同),所以把这个区域称为可变电阻区。

2)恒流区:曲线近于水平的部分称为恒流区(又称饱和区)。在此区内,UDS增加,ID基本不变(对应同一UGS),管子的工作状态相当于一个“恒流源”,所以把这部分区域称为恒流区。

        

5-30  N沟道结型场效应管转移特性曲线         5-31  N沟道结型场效应管输出特性曲线

5-32  UDS对沟道的影响

在恒流区内,IDUGS的大小而改变,曲线间隔反映出UGSID的控制能力。从这种意义来讲,恒流区又可称为线性放大区。场效应管作放大运用时,一般就工作在这个区域。恒流区产生的物理原因,是由于漏源电压UDSN沟道的纵向产生电位梯度,使得从漏极至源极沟道的不同位置上,沟道-栅极间的电压不相等,靠近漏端最大,耗尽层也最宽,而靠近源端的耗尽层最窄。这样,在UGSUDS的共同作用下,导电沟道呈楔型,如图5-32所示。当UDS增加到使UDS=UGSoff时,两边的耗尽层首先在图中A点处靠拢,沟道被夹断。因为它不同于完全夹断,所以称为预夹断。此后,随着UDS的增加,沟道夹断的长度向源极方向延伸。由于耗尽层的电阻比沟道的电阻大得多,所以UDS增加的部分几乎全部降落在夹断处的耗尽层上,在导电沟道上的电位梯度几乎不变,因而ID就几乎不变,出现恒流现象。

3)击穿区:特性曲线快速上翘部分称为击穿区。在此区内,UDS较大,ID剧增,出现了击穿现象。场效应管工作时,不允许进入这个区域。

5.5.2  绝缘栅场效应管

绝缘栅场效应管(简称MOS管)按照制造工艺和材料不同,可分为N沟道和P沟道;MOS管按照工作方式不同,又可分为增强型和耗尽型。因此MOS管可分为N沟道增强型、P沟道增强型、N沟道耗尽型和P沟道耗尽型4种。

增强型MOS管与耗尽型MOS管的区别是:增强型MOS管在栅-源之间未加电压时,无导电沟道;只有当栅-源之间加上电压后,才能产生导电沟道。而耗尽型MOS管在栅-源之间未加电压时,已经存在导电沟道。本节以N沟道增强型MOS管为例,介绍MOS管的结构、工作原理及特性曲线。

1N沟道增强型绝缘栅场效应管

N沟道增强型绝缘栅场效应管的结构如图5-33所示。它的制作过程是:以一块杂质浓度较低的P型硅半导体薄片作衬底,利用扩散方法在上面形成两个高掺杂的N+区,并在N+区上安置两个电极,分别称为源极(S)和漏极(D),然后在半导体表面覆盖一层很薄的SiO2绝缘层,并在SiO2表面再安置一个金属电极,称为栅极(G),栅极同源极、漏极均无电接触,故称“绝缘栅极”。

a

b

5-33  N沟道增强型绝缘栅场效应管结构图及符号PMOS管符号

2N沟道增强型绝缘栅场效应管工作原理

在图5-33a)中,如果将栅极与源极短路,那么不论漏极与源极间加的电压极性如何,总会有一个PN结呈反向偏置,漏极与源极间将无电流。

如果在栅极与源极间加上一个正电源UGS,并将衬底与源极相连,如图5-33所示。此时,栅极(金属)和衬底(P型硅片)相当于以SiO2为介质的平板电容器,在正栅源电压UGS即栅-衬底电压(UGU)的作用下,介质中便产生一个垂直于P型衬底表面的由栅极指向衬底的电场,从而将衬底里的电子感应到表面上来。当UGS较小时,感应到衬底表面上的电子数很少,并被衬底表层的大量空穴复合掉;直到UGS增加超过某一临界电压时,介质中的强电场才在衬底表面层感应出“过剩”的电子。于是,便在P型衬底的表面形成一个N型层——称为反型层。这个反型层与漏、源的N+区之间没有PN结阻挡层,而具有良好的接触,相当于将漏、源极连在一起(见图5-33)。若此时加上漏源电压UDS,就会产生ID。形成反型层的临界电压,称为栅源阈电压(或称为开启电压),用UGSth表示。这个反型层就构成源极和漏极的N型导电沟道,由于它是在电场的感应下产生的,故也称为感生沟道。

显然,N型导电沟道的厚薄是由栅源电压UGS的大小决定的。改变UGS,可以改变沟通的厚薄,也就是能够改变沟道的电阻,从而可以改变漏极电流ID的大小。于是,可以得出结论:栅源电压UGS能够控制漏极电流ID

N沟道增强型绝缘栅场效应管的特性曲线(示意图)如图5-34所示。图5-34a)的转移特性是在UDS为某一固定值的条件下测出的,当UGSUGS(th)时,ID=0;当UGS=UGS(th)时,导电沟道形成,并且IDUGS的增大而增大。图5-34b)为输出特性,同结型场效应管的情况类似。

a)转移特性                  b)输出特性

5-34  N沟道增强型绝缘栅场效应管转移特性和输出特性曲线

3N沟道耗尽型绝缘栅场效应管

5-35  N沟道耗尽型绝缘栅场效应管

N沟道耗尽型绝缘栅场效应管的结构和增强型基本相同,只是在制作这种管子时,预先在SiO2绝缘层中掺有大量的正离子。这样,即使在UGS=0时,由于正离子的作用,也能在P型衬底表面形成感生沟道,将源区和漏区连接起来,如图5-35所示。当漏、源极之间加上正电压UDS时,就会有较大的漏极电流ID。如果UGS为负,介质中的电场被削弱,使N型沟道中感应的负电荷减少,沟道变薄(电阻增大),因而ID减小。这同结型场效应管相似,故称为“耗尽型”。所不同的是,N沟道耗尽型绝缘栅场效应管可在UGS0的情况下工作,此时在N型沟道中感应出更多的负电荷,使ID更大。不论栅源电压为正还是为负都能起控制ID大小的作用,而又基本无栅流,这是这种管子的一个重要特点。

N沟道耗尽型绝缘栅场效应管转移特性和输出特性曲线如图5-36所示。

          a)转移特性                        b)输出特性

5-36  N沟道耗尽型绝缘栅场效应管转移特性和输出特性曲线

现在对MOS管的符号再作进一步说明。如图5-37所示,在N沟道MOS管符号中,衬底上的箭头是向内的(由P型衬底指向N型沟道);而在P沟道MOS管的符号中,衬底上的箭头是向外的(由P型沟道指向N型衬底)。在增强型MOS管的符号中,SD和衬底U之间是断开的,表示UGS=0时导电沟道没有形成;在耗尽型MOS管的符号中,SDU是连在一起的,表示UGS=0时导电沟道也已存在。

aN沟道增强型       bN沟道耗尽型     cN沟道MOS管简化符号

dP沟道增强型       eP沟道耗尽型       fP沟道MOS管简化符号

5-37  绝缘栅场效应管电路符号

5.5.3  场效应管的主要参数及特点

1.直流参数

1)饱和漏极电流IDSSIDSS是耗尽型和结型场效应管的一个重要参数,它的定义是当栅-源之间的电压UGS等于零,而漏-源之间的电压UDS大于夹断电压UP时对应的漏极电流。

2)夹断电压UPUP也是耗尽型和结型场效应管的重要参数,其定义为当UDS一定时,使ID减小到某一个微小电流(如1μA50μA)时所需的UGS值。

3)开启电压UthUth是增强型场效应管的重要参数,它的定义是当UDS一定时,漏极电流ID达到某一数值(例如10μA)时所需加的UGS值。

4)直流输入电阻RGSRGS是栅-源之间所加电压与产生的栅极电流之比。由于栅极几乎不索取电流,因此输入电阻很高。结型在106Ω以上,MOS管在1010Ω以上。

2.交流参数

1)低频跨导gm

跨导gm的单位是mA/V。它的值可由转移特性或输出特性求得:

2)极间电容。场效应管3个电极之间的电容,包括CGSCGDCDS。这些极间电容愈小,则管子的高频性能愈好。这些极间电容一般为几个pF

3.极限参数

1)漏极最大允许耗散功率PDmPDmIDUDS有如下关系

这部分功率将转化为热能,使管子的温度升高。PDm决定于场效应管允许的最高温升。

2)漏、源间击穿电压BUDS。在场效应管输出特性曲线上,当漏极电流ID急剧上升产生雪崩击穿时的UDS。工作时外加在漏-源之间的电压不得超过此值。

3)栅源间击穿电压BUGS。结型场效应管正常工作时,栅-源之间的PN结处于反向偏置状态,若UGS过高,PN结将被击穿。

对于MOS场效应管,由于栅极与沟道之间有一层很薄的SiO2绝缘层,当UGS过高时,可能将SiO2绝缘层击穿,使栅极与衬底发生短路。这种击穿不同于PN结击穿,而和电容器击穿的情况类似,属于破坏性击穿,即栅-源间发生击穿,MOS管立即被损坏。

4.场效应管的特点

1)场效应管是一种电压控制器件,即通过UGS来控制ID

2)场效应管输入端几乎没有电流,所以其直流输入电阻和交流输入电阻都非常高。

3)由于场效应管是利用多数载流子导电的,因此,与双极性三极管相比,具有噪声小、受辐射的影响小、热稳定性较好而且存在零温度系数工作点等特性。

4)由于场效应管的结构对称,有时漏极和源极可以互换使用,而各项指标基本上不受影响,因此应用时比较方便、灵活。

5)场效应管的制造工艺简单,有利于大规模集成。

6)由于MOS场效应管的输入电阻可高达1015Ω,因此,由外界静电感应所产生的电荷不易泄漏,而栅极上的SiO2绝缘层又很薄,这将在栅极上产生很高的电场强度,以致引起绝缘层击穿而损坏管子。

7)场效应管的跨导较小,当组成放大电路时,在相同的负荷电阻下,电压放大倍数比双极型三极管低。